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西安智盈电气科技有限公司

参数测试设备: 静态参数,动态参数(开通关断/反向恢复/短路/安全工作区)测试 等);雪崩能力测试,老化及可靠性。 参数测试设备: 静态参数;动态参数(开通关断/反向恢复/短路/安全工作区)测试等);老化及可靠性 二管及可控硅/晶闸管)参数测试设备: 静态参数测试;动态参数测试 ;浪涌参数测试;老化及可靠性测试(高温阻断);热阻参数测试 产品以高度集成化、智能化、高速超宽测试范围等竞争优势,将广泛
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半导体 分立器件测试系统

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    ¥11000.00/件

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    西安智盈科技

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  • 品牌:

    西安智盈科技

  • 单价:

    ¥11000.00 / 件

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  • 总量:

    10件

  • 地址:

    陕西西安市

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    预售,付款后60

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详情描述

 系统概述

设备的扩展性强,通过选件可提高电流、电压以及测试品种的范围。支持电压电流阶梯升级至2000V,1250A。采用了脉冲测试法,脉冲宽度为美军规定的300uS。在PC窗口提示下输入被测器件的测试条件点击即可完成测试任务。系统采用带有开尔文感应结构的测试插座,自动补偿由于系统内部及测试电缆长度引起的任何压降,保证测试结果准确可靠。

 

基础配置

 

技术参数

ENJ2005-A型

ENJ2005-B型

主极电压

10mV-2000V

10mV-2000V

主极电流

100nA-50A

100nA-50A

扩展电流

100A、200A、400A、500A

250A、500A、750A、1000A、1250A

电压分辨率

1mV

1mV

电流分辨率

100nA

10nA(可扩展至10pA)

测试精度

0.5%+2LSB

0.2%+2LSB

测试速度

0.5mS/参数Parameter

0.5mS/参数Parameter

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

测试范围

测试器件

二极管  /  DIODE

绝缘栅双极大功率晶体管  /  IGBT

晶体管  /  NPN型/PNP型

MOS场效应管  /  MOS-FET

J型场效应管  /  J-FET

可控硅  /  SCR

双向可控硅  /  TRIAC

达林顿列阵  /  DRALINTON

光电耦合  /  OPTO-COUPLER

稳压、齐纳二极管  /  ZENER

三端稳压器  /  REGULATOR

双向触发二极管  /  DIAC

 

硅触发可控硅  /  STS

 

光电开关  /  OPTO-SWITCH

 

光电逻辑  /  OPTO-LOGIC

 

金属氧化物压变电阻  /  MOV

 

固态过压保护器  /  SSOVP

 

压变电阻  /  VARISTOR

 

继电器  /  RELAY

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

测试参数

漏电参数:IR、ICBO、LCEO/S/X、IDSS/X、IDOFF、IDRM、IRRM、ICOFF、IDGO、ICES、IGESF、IGESR、IEBO、IGSSF、IGSSR、IGSS、IGKO、IR(OPTO)

击穿参数:BVCEO BVCES(300uS Pulse above 10mA)BVDSS、VD、BVCBO、VDRM、VRRM  VBB、BVR、VD+、VD-、BVDGO、BVZ、BVEBO、BVGSS、BVGKO

增益参数:hFE、CTR、gFS

导通参数:VCESAT、SAT、VBEON、VF、VT、VT+、VT-、VON、VDSON、VDON、VGSON、VF(Opto-Diode)VGSTH、VGETH、VTM、VSD、IDON、VSAT、IDON、Notch=IGT1、IGT4、ICON、VGEON、VO(Regulator)、IIN(Regulator)

混合参数:Rdson、Gfs、Input Regulation、Output Regulation

关断参数:VGSOFF

触发参数:IGT、VGT

保持参数:IH、IH+、IH-


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品牌 西安智盈科技
外形尺寸 800*800*1800
型号 ZY-DBC
产品特性 可靠性高
过期 长期有效
更新 2025-08-27 16:32
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